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高速線陣CMOS探測,高速探測器類型：寬譜響應高速近紅外探測器、寬譜響應高速可見探測器、高靈敏高速可見探測器等。
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產品中心
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SHG100非線性SHG測試系統電控位移臺：行程范圍20x20mm。支持同步觸發掃描，用于SHG成像。
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雙光子吸收測試,Z掃描測試系統-ZTS100抖動消除：參比雙通道信號同時采集；功率檢測范圍：50 nW-40 mW。
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超快陰影泵浦探測,飛秒陰影泵浦探測,超快泵浦探測陰影成像系統UPSI100主要利用調節pump和probe光之間的光程差來進行測試。首先激光打在樣品上，樣品表面會產生一定程度的損毀，由于本過程很快（p...
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晶圓位錯缺陷檢測，MICRO LED晶圓級綜合檢測系統明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
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鈣鈦礦組件效率優化方案：鈣鈦礦疊層電池表征，鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統檢測時間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。
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熒光壽命成像,晶圓位錯缺陷檢測,SiC晶圓質量成像檢測系統：晶圓襯底質量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質量。
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碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
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可調諧納秒脈沖染料激光器這款可調諧、窄線寬的染料激光器采用了緊湊的一體化設計,并配備有堅固的金屬外殼,從而保證了穩定的性能。它可以根據需求進行定制,以滿足應用的要求。
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