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產品分類晶圓位錯缺陷檢測,MICRO LED晶圓級綜合檢測系統明場/PL檢測類型:明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
更新時間:2025-11-05
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鈣鈦礦組件效率優化方案:鈣鈦礦疊層電池表征,鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統檢測時間<10 min(10cm*10cm) 空間分辨率20 μm/100μm。
更新時間:2025-11-05
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碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統:最高檢測速度:<17min/片(6“);BPD、TSD、TED分類識別。
更新時間:2025-05-07
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